Patentes Medição

DISPOSITIVO PARA CÁLCULO DE RECALQUE RELATIVO

Descrição

A presente invenção apresenta uma solução para o monitoramento automático de recalques entre duas edificações, baseado no processamento digital de imagens, sendo formada por um apontador laser instrumentado e um sistema embarcado para captação e processamento de imagens. A medição é realizada observando-se os deslocamentos verticais de um ponto luminoso projetado na edificação monitorada, em relação à primeira posição registrada pelos equipamentos. O sistema embarcado é composto por um sensor fotoelétrico (39) responsável por captar as imagens do ponto luminoso, uma unidade central de processamento (37), um sistema de comunicação (36) para receber e enviar dados, e um conjunto de sensores (34) (35) capazes de medir a pose tridimensional do sensor fotoelétrico (presentes também no apontador laser).

Principais Benefícios e Caracteristicas da Invenção

A solução proposta dispensa o uso de lentes óticas e filtros físicos utilizados na maioria das invenções, uma vez que o sensor fotoelétrico é posicionado ao lado de uma área de interesse na superfície da edificação monitorada, onde o ponto luminoso é projetado. Adicionalmente, a presente invenção corrige o efeito negativo de vibrações mecânicas que possam surgir na fonte emissora de luz (laser), procedimento não observado nas demais invenções. As duas características citadas são implementadas por meio de software na etapa de processamento digital das imagens.

Inventores

• Samaherni Morais Dias
• Allan De Medeiros Martins
• Kurios Iuri Pinheiro De Melo Queiroz

Cotitularidade

FUNDASOLOS LTDA

Status

Pedido de patente de INVENÇÃO depositado junto ao INPI

Nº do Pedido: BR 10 2022 017081 9

País

Brasil